北京中科医院好不好 https://wapjbk.39.net/yiyuanfengcai/tsyl_bjzkbdfyy/am0iixy/迅镭激光第三代AOI晶粒检测机，GPP芯片检测，赋能品控，为芯片制造保驾护航！
高效半导体芯片检测，让缺陷无所遁形！
迅镭激光推出QL-DV系列第三代AOI晶粒检测机，将机器视觉技术应用于半导体领域，集成高帧率相机、高速分拣系统、全自动喂料、AOI视觉检测系统等功能，对GPP晶圆进行缺陷检测，大大提高了产品良率和生产效率。
高速检测
设备检测速度最高可达pcs/min.设备采用进口高精度振动盘精准送料，可实现稳定快速精准的分拣。高精度伺服转台和高透光玻璃转盘，确保检测的稳定性。
高精算法
采用高帧率工业相机对被检测物体进行实时拍摄，利用亚像素级高精度算法检测，精准实现产品正反面缺陷检测。
高准确率
能够准确识别不同种类缺陷，如连体、毛边、脏污、缺角、尺寸、崩边、切割偏位、黑点污染等，漏检率0.%，错检率0.2%。
高兼容性
设备可兼容36mil-mil范围的晶粒，采用通用轨道设计，无需更换轨道，节省调试时间。
以物联网、汽车电子、5G、人工智能为代表的新兴行业的兴起，带动了半导体产业的增长，市场对半导体芯片的质量也提出了更高要求。AOI通过对芯片进行缺陷检测，在进入后续工序前予以剔除，能够提高产品良率，是半导体芯片质量保证的坚实基础。
